一種基于以太網(wǎng)傳輸?shù)牧魉€光學(xué)缺陷檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201822068646.X 申請日 -
公開（公告）號 CN209311350U 公開（公告）日 2019-08-27
申請公布號 CN209311350U 申請公布日 2019-08-27
分類號 G01N21/89（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周玉宇; 楊宇闐奕 申請（專利權(quán)）人 武漢華威科智能技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 武漢東喻專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 武漢華威科智能技術(shù)有限公司
地址 430074 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新大道999號海外人才大樓B座3樓301室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種基于以太網(wǎng)傳輸?shù)牧魉€光學(xué)缺陷檢測系統(tǒng)，屬于生產(chǎn)線檢測技術(shù)領(lǐng)域。系統(tǒng)包括相連接的CCD相機硬件平臺和上位機；所述CCD相機硬件平臺包括鏡頭、CCD傳感器和主板，CCD相機的輸出端連接CCD傳感器的輸入端，CCD傳感器的輸出端連接主板；所述主板包括FPGA芯片以及分別與其連接的ADC信號處理芯片、DDR3內(nèi)存、以太網(wǎng)PHY芯片和電源模塊，以太網(wǎng)PHY芯片通過千兆以太網(wǎng)線連接上位機。本實用新型具有控制便捷、響應(yīng)迅速、大數(shù)據(jù)量穩(wěn)定傳輸?shù)膬?yōu)點，有助于滿足工業(yè)場景下對目標產(chǎn)品缺陷檢測更高精度、更快處理速度的需求。