一種電信卡密碼覆膜性能的測定、評價(jià)方法及其裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201110452020.9 申請日 -
公開（公告）號 CN102564945B 公開（公告）日 2013-10-16
申請公布號 CN102564945B 申請公布日 2013-10-16
分類號 G01N19/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張向軍;李紅;顏浩;覃珊;李晨光;盧麗敏 申請（專利權(quán)）人 聯(lián)通興業(yè)通信技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 聯(lián)通興業(yè)通信技術(shù)有限公司;清華大學(xué);聯(lián)通華盛通信有限公司
地址 100038 北京市海淀區(qū)羊坊店路9號京門大廈3段11層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種電信卡密碼覆膜性能的測定、評價(jià)方法及其裝置，屬于電信卡密碼覆膜去除技術(shù)領(lǐng)域，該方法包括以下步驟：設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)；測得電信卡密碼覆膜在該速度和劃擦載荷下的一組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)；并更換同一類別新電信卡，得到在相同參數(shù)的三組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)；改變劃擦載荷值，得到多組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)；依次更換另一種待測電信卡，得到每種待測電信卡的多組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)；制作每種待測電信卡密碼覆膜有效去除面積比數(shù)與劃擦載荷的關(guān)系曲線，對比各測試載荷下待測電信卡的有效去除面積比數(shù)，篩選出相同具有較好密碼覆膜性能的電信卡。本發(fā)明可用于確立電信卡密碼覆膜層的測試標(biāo)準(zhǔn)，并判斷電信卡供應(yīng)廠家生產(chǎn)的電信卡密碼覆膜是否合格。