讀取電壓設(shè)定方法、存儲器存儲裝置及存儲器控制器
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210232133.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114724596A | 公開(公告)日 | 2022-07-08 |
申請公布號 | CN114724596A | 申請公布日 | 2022-07-08 |
分類號 | G11C7/14(2006.01)I;G11C16/26(2006.01)I | 分類 | 信息存儲; |
發(fā)明人 | 劉其鎧 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳宏芯宇電子股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 518031廣東省深圳市福田區(qū)梅林街道梅都社區(qū)中康路136號深圳新一代產(chǎn)業(yè)園2棟2501、2401、1501 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供讀取電壓設(shè)定方法、存儲器存儲裝置及存儲器控制器。此方法包括:取得第一實體群組對應(yīng)的第一老化等級,并使用對應(yīng)至第一老化等級的第一讀取電壓讀取第一實體群組包括的至少一第一實體程序化單元;判斷第一實體程序化單元的預(yù)設(shè)區(qū)段中的錯誤比特數(shù)目是否大于錯誤比特數(shù)門檻值,并對錯誤比特數(shù)目被判定為大于錯誤比特數(shù)門檻值的次數(shù)進(jìn)行計數(shù)而產(chǎn)生第一計數(shù)值;響應(yīng)于第一計數(shù)值大于第一老化門檻值而將第一實體群組對應(yīng)的第一老化等級更新為第二老化等級;以及使用對應(yīng)至第二老化等級的第二讀取電壓從第一實體程序化單元讀取數(shù)據(jù)。 |
