硫酸奈替米星中汞殘留量的檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011439478.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112697775A 公開（公告）日 2021-04-23
申請公布號 CN112697775A 申請公布日 2021-04-23
分類號 G01N21/73;G01N1/38 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周燕;姜吳斌;何凌 申請（專利權(quán)）人 無錫福祈制藥有限公司
代理機構(gòu) 北京商專潤文專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 蘇霞
地址 214000 江蘇省無錫市錫山區(qū)蓉洋一路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種硫酸奈替米星中汞殘留量的檢測方法，包括5個步驟，步驟(1)取汞元素制備線性儲備液和線性溶液；步驟(2)制備供試品溶液；步驟(3)制備加標供試品溶液；步驟(4)取線性溶液在ICP中進行測定，記錄譜圖，以進樣濃度為橫坐標，峰面積為縱坐標，進行線性回歸，獲得回歸方程；步驟(5)根據(jù)步驟(2)、(3)依次對供試品溶液、加標供試品溶液進行測定，并對加標供試品溶液進行重復(fù)性中間精密度以及回收率測定。本發(fā)明通過5個步驟實現(xiàn)了對硫酸奈替米星中Cd、Pb、As、Co、V、Ni殘留量的高效測定，操作步驟簡單，靈敏度好，確保藥品安全、有效、質(zhì)量可控。