法蘭表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)和設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011533105.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112508939A | 公開(公告)日 | 2021-03-16 |
申請公布號 | CN112508939A | 申請公布日 | 2021-03-16 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/11(2017.01)I;G06T7/136(2017.01)I;G06N3/08(2006.01)I;G06N3/04(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 張晨民;李丙濤;栗芳;陳眾威 | 申請(專利權(quán))人 | 鄭州金惠計算機系統(tǒng)工程有限公司 |
代理機構(gòu) | 鄭州大通專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 周艷巧 |
地址 | 450000河南省鄭州市金水區(qū)楊金路139號河南外包產(chǎn)業(yè)園C8-1 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于工業(yè)化產(chǎn)品外觀檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種法蘭表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)和設(shè)備,該方法中包含:獲取待檢測法蘭圖像并定位目標(biāo)區(qū)域,該目標(biāo)區(qū)域至少包含:法蘭端面、中心螺栓孔和法蘭背面;對目標(biāo)區(qū)域進行語義分割,確定待檢測區(qū)域;利用像素鄰域塊灰度階差異獲取待檢測區(qū)域具有缺陷特征的候選像素點;對候選像素點進行形態(tài)學(xué)操作與連通域分析,得到候選缺陷位置圖像;利用已訓(xùn)練優(yōu)化的圖像識別網(wǎng)絡(luò)模型對候選缺陷位置圖像進行分類識別,去除法蘭表面?zhèn)稳毕莺徒y(tǒng)計缺陷特征信息。本發(fā)明可有效提升法蘭表面檢測自動化程度,提高法蘭產(chǎn)品表面缺陷檢測的準(zhǔn)確率,降低勞動強度,具有較好的應(yīng)用價值。?? |
