一種表面缺陷檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011493629.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112734690A 公開（公告）日 2021-04-30
申請公布號 CN112734690A 申請公布日 2021-04-30
分類號 G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 徐明亮;王可;劉奕陽;姜曉恒;張晨民;李丙濤;栗芳 申請（專利權(quán)）人 鄭州金惠計算機系統(tǒng)工程有限公司
代理機構(gòu) 鄭州銘晟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張萬利
地址 450000 河南省鄭州市金水區(qū)楊金路139號河南外包產(chǎn)業(yè)園C8-1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明適用于圖像識別技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種表面缺陷檢測方法，所述方法包括：采集工業(yè)零部件表面圖像；將所述表面圖像的原始大尺寸圖像分塊成多個子圖，得到子圖訓練數(shù)據(jù)集；構(gòu)建缺陷檢測網(wǎng)絡(luò)；將子圖訓練數(shù)據(jù)集中的子圖輸入到所述缺陷檢測網(wǎng)絡(luò)中進行訓練，獲取訓練好的缺陷檢測網(wǎng)絡(luò)；對待測圖像進行分割處理，將所述待測圖像分割成多個子圖塊圖像；將所述多個子圖塊圖像輸入到訓練好的缺陷檢測網(wǎng)絡(luò)，獲取所述多個子圖塊圖像的檢測結(jié)果。本發(fā)明提供的方法，解決了現(xiàn)有的表面缺陷檢測精度差、數(shù)據(jù)量少、缺陷小帶來的檢測難度增加的問題。