一種工業(yè)數(shù)據(jù)異常檢測方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011493678.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113160110A | 公開(公告)日 | 2021-07-23 |
申請公布號 | CN113160110A | 申請公布日 | 2021-07-23 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06K9/62(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 徐明亮;陳麗;靳啟帆;姜曉恒;張晨民;李丙濤;栗芳 | 申請(專利權(quán))人 | 鄭州金惠計算機系統(tǒng)工程有限公司 |
代理機構(gòu) | 鄭州銘晟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 張萬利 |
地址 | 450000河南省鄭州市金水區(qū)楊金路139號河南外包產(chǎn)業(yè)園C8-1 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種工業(yè)數(shù)據(jù)異常檢測方法,首先,獲取所述標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)制品的數(shù)據(jù),獲取所述異常工業(yè)制品的數(shù)據(jù);其次,對所述標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)制品的數(shù)據(jù)進行重新校驗,對所述異常工業(yè)制品的數(shù)據(jù)進行重新校驗;然后,計算并獲得所述數(shù)據(jù)的高密度區(qū)域和低密度區(qū)域;通過對所述低密度區(qū)域進行劃分,識別出缺陷樣本的類別;最后獲取待測樣本的數(shù)據(jù),確定所述待測樣本的類別。本發(fā)明的實施例中,通過將對數(shù)據(jù)進行校驗,保證數(shù)據(jù)的一致性,使得對工業(yè)制品缺陷進行分類時,缺陷分類更加精準(zhǔn),且通過對低密度區(qū)域進行劃分,識別出缺陷樣本的類別,可以有效的對缺陷類別進行分類;并對待測樣本進行缺陷檢測時,可以準(zhǔn)確確定其所屬的缺陷類別。 |
