硅基Si/Si

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811617182.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN111384196A 公開(公告)日 2020-07-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN111384196A 申請(qǐng)公布日 2020-07-07
分類號(hào) H01L31/107(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 孫芳魁;趙永紅 申請(qǐng)(專利權(quán))人 哈爾濱伽馬光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 150027黑龍江省哈爾濱市松北區(qū)中源大道15199號(hào)4號(hào)樓3單元3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 硅基Si/Si1?xGex量子阱APD,本發(fā)明屬于探測(cè)器領(lǐng)域,其中包括P+襯底(1),P+襯底(1)上外延10微米P?外延層(2),在P?外延層(2)上外延22nm厚的Si/Si1?xGex量子阱結(jié)構(gòu)(3),在所述的Si/Si1?xGex量子阱結(jié)構(gòu)上方外延2微米的P?型外延層(4),在Si/Si1?xGex量子阱結(jié)構(gòu)上方依次為APD的場(chǎng)控區(qū)、倍增區(qū)、N型注入?yún)^(qū)。本發(fā)明將Si/Si1?xGex量子阱結(jié)構(gòu)加入APD的吸收區(qū),通過Si/Si1?xGex形成的既是量子阱又是光波導(dǎo)的結(jié)構(gòu)陷入更多的光子并增加長(zhǎng)波長(zhǎng)光子在窄帶隙Si1?xGex的本征吸收,進(jìn)而提高APD的長(zhǎng)波長(zhǎng)范圍的吸收率并拓寬吸收光譜波長(zhǎng)范圍。最終設(shè)計(jì)出一款紅外吸收增強(qiáng)并設(shè)計(jì)出波長(zhǎng)截止為1.32um的硅基Si/Si1?xGex量子阱紅外探測(cè)APD像元,起到吸收紅外紅移的效果,并提高了硅基APD的信噪比,有效抑制噪聲。??