一種測(cè)試電路及其構(gòu)成的集成電路和測(cè)試設(shè)定方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010172132.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111175645B | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-03-16 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111175645B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-16 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 傅科成;黃小偉;夏曉亮 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 杭州芯耘光電科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 311100浙江省杭州市余杭區(qū)余杭經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)超峰東路2號(hào)南樓511室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種測(cè)試電路，應(yīng)用于帶有電源端（VCC）、地端（GND）、輸入電壓端口IN1、輸入電壓端口IN2的集成電路，包括SR鎖存器1、計(jì)數(shù)器、串行/并行單元、比較器CMP1、比較器CMP2，所述SR鎖存器1輸入端分別接所述比較器CMP1、比較器CMP2；所述比較器CMP1、比較器CMP2輸入端均分別連接電源端（VCC）、輸入電壓端口IN1；所述SR鎖存器1輸出端與所述計(jì)數(shù)器輸入端連接，所述計(jì)數(shù)器輸出端與所述串行/并行單元輸入端連接；所述串行/并行單元輸出計(jì)數(shù)信號(hào)。通過(guò)對(duì)芯片的部分輸入端口加入特定的信號(hào)，從而激活內(nèi)置的測(cè)試模式設(shè)定電路，而不需要增加額外的ADC電路，可以節(jié)省成本且降低芯片的復(fù)雜度。?? |
