一種修調(diào)電路及其構(gòu)成的集成電路
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202020304528.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN211656122U | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-10-09 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN211656122U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-09 |
| 分類(lèi)號(hào) | H03K19/00(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電子電路; |
| 發(fā)明人 | 傅科成;黃小偉;夏曉亮 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 杭州芯耘光電科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 311100浙江省杭州市余杭區(qū)余杭經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)超峰東路2號(hào)南樓511室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型提供一種修調(diào)電路及其構(gòu)成的集成電路，應(yīng)用于帶有電源端(VCC)、地端(GND)、輸入電壓端口一(IN1)、輸入電壓端口二(IN2)的集成電路，包括測(cè)試模式電路、efuse電路，所述測(cè)試模式電路用于測(cè)試集成電路運(yùn)行參數(shù)；所述efuse電路用于集成電路內(nèi)部修復(fù)，所述測(cè)試模式電路輸出測(cè)試信號(hào)后經(jīng)efuse電路處理輸出修調(diào)信號(hào)。這種修調(diào)電路在測(cè)試電路基礎(chǔ)上增加efuse電路，對(duì)芯片的幾個(gè)輸入腳進(jìn)行復(fù)雜有規(guī)律的激勵(lì)，使芯片進(jìn)入修調(diào)電路模式，然后對(duì)efuse進(jìn)行燒寫(xiě)，相比直接封裝前的探針扎針燒寫(xiě)，測(cè)試復(fù)雜性以及測(cè)試成本都有很大的優(yōu)勢(shì)，降低了芯片的封裝尺寸和生產(chǎn)成本。?? |
