一種修調(diào)電路及其構(gòu)成的集成電路
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202020304528.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN211656122U | 公開(公告)日 | 2020-10-09 |
申請公布號 | CN211656122U | 申請公布日 | 2020-10-09 |
分類號 | H03K19/00(2006.01)I | 分類 | 基本電子電路; |
發(fā)明人 | 傅科成;黃小偉;夏曉亮 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州芯耘光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 311100浙江省杭州市余杭區(qū)余杭經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)超峰東路2號南樓511室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供一種修調(diào)電路及其構(gòu)成的集成電路,應(yīng)用于帶有電源端(VCC)、地端(GND)、輸入電壓端口一(IN1)、輸入電壓端口二(IN2)的集成電路,包括測試模式電路、efuse電路,所述測試模式電路用于測試集成電路運(yùn)行參數(shù);所述efuse電路用于集成電路內(nèi)部修復(fù),所述測試模式電路輸出測試信號后經(jīng)efuse電路處理輸出修調(diào)信號。這種修調(diào)電路在測試電路基礎(chǔ)上增加efuse電路,對芯片的幾個(gè)輸入腳進(jìn)行復(fù)雜有規(guī)律的激勵,使芯片進(jìn)入修調(diào)電路模式,然后對efuse進(jìn)行燒寫,相比直接封裝前的探針扎針燒寫,測試復(fù)雜性以及測試成本都有很大的優(yōu)勢,降低了芯片的封裝尺寸和生產(chǎn)成本。?? |
