一種SiC結(jié)勢壘肖特基二極管及其制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201811288687.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109461768A | 公開(公告)日 | 2019-03-12 |
申請公布號 | CN109461768A | 申請公布日 | 2019-03-12 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I; H01L29/872(2006.01)I; H01L21/329(2006.01)I; H01L21/04(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 邵錦文; 侯同曉; 孫致祥; 賈仁需; 元磊; 張秋潔; 劉學(xué)松 | 申請(專利權(quán))人 | 秦皇島京河科學(xué)技術(shù)研究院有限公司 |
代理機構(gòu) | 西安嘉思特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 張曉 |
地址 | 066004 河北省秦皇島市市轄區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)數(shù)谷大道2號數(shù)谷大廈1402-2房間 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種SiC結(jié)勢壘肖特基二極管及其制造方法,其中,所述SiC結(jié)勢壘肖特基二極管包括:第一導(dǎo)電類型SiC襯底層、低摻雜第一導(dǎo)電類型外延層、高摻雜第一導(dǎo)電類型外延層、多個第二導(dǎo)電類型摻雜區(qū),所述第二導(dǎo)電類型摻雜區(qū)的深度大于所述高摻雜第一導(dǎo)電類型外延層的厚度,第一電極和第二電極。本發(fā)明實施例通過調(diào)整表面摻雜濃度,勢壘寬度減小,使得二極管的勢壘降低,通過不同摻雜濃度改變金屬?半導(dǎo)體接觸的有效勢壘高度,從而減小勢壘寬度,使得自由程較小的電子也可以穿透勢壘,正向隧穿電流增大,相當(dāng)于減小了導(dǎo)通電阻,因此可以通過較小的電壓實現(xiàn)二極管導(dǎo)通。 |
