低溫電學測量插拔型樣品托

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201720249559.7 申請日 -
公開（公告）號 CN206657033U 公開（公告）日 2017-11-21
申請公布號 CN206657033U 申請公布日 2017-11-21
分類號 G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 叢君狀;申世鵬;邢健 申請（專利權）人 多場低溫科技（北京）有限公司
代理機構 北京易正達專利代理有限公司 代理人 多場低溫科技（北京）有限公司
地址 100190 北京市海淀區(qū)中關村東路世紀科貿大廈d座603
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種低溫電學測量插拔型樣品托，包括電學樣品托板，所述電學樣品托板上設有樣品安裝區(qū)，所述樣品安裝區(qū)內設有貫穿所述電學樣品托板的非金屬導熱體，所述電學樣品托板的底部設有與所述非金屬導熱體相接觸的導熱托板，所述電學樣品托板與導熱托板之間通過可插拔結構插拔連接。本實用新型通過在電學樣品托板的中心嵌入非金屬導熱體(藍寶石片)，然后讓樣品和非金屬導熱體接觸，非金屬導熱體和導熱底架接觸，導熱底架與冷源接觸，形成復合樣品托，可實現(xiàn)實際溫度與冷源的溫差極小，極大地節(jié)約了測量時間以及提高了測量精度。