一種基于深度度量學(xué)習(xí)的EDA電路失效分析方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111036201.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114139482A 公開（公告）日 2022-03-04
申請公布號 CN114139482A 申請公布日 2022-03-04
分類號 G06F30/367（2020.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張立軍;嚴(yán)雨靈;馬利軍;張重達(dá);婁圓 申請（專利權(quán)）人 蘇州寬溫電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州吳韻知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王銘陸
地址 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號蘇州納米城1幢606-4室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于深度度量學(xué)習(xí)的EDA電路失效分析方法，包括步驟：一、根據(jù)原始分布對EDA電路樣本進(jìn)行蒙特卡羅采樣，生成蒙特卡羅采樣樣本，并進(jìn)行蒙特卡羅仿真，得到失效仿真結(jié)果；二、通過步驟一的蒙特卡羅采樣樣本和失效仿真結(jié)果，訓(xùn)練一個能夠?qū)⑹颖緟^(qū)分出來的深度度量學(xué)習(xí)模型；三、對待進(jìn)行失效分析的EDA電路，采用蒙特卡羅采樣方法生成足夠多的失效分析樣本，并利用步驟二中訓(xùn)練的深度度量學(xué)習(xí)模型對樣本進(jìn)行篩選，篩選出可能失效樣本；四、對可能失效樣本進(jìn)行SPICE電路仿真，得到失效的EDA電路并計(jì)算出失效率。本發(fā)明仿真效率高，可靠性高，在先進(jìn)工藝大規(guī)模電路的仿真分析中具有明顯的優(yōu)勢。