一種基于多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路良率分析方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111066024.3 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN114065682A 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號(hào) CN114065682A 申請公布日 2022-02-18
分類號(hào) G06F30/367（2020.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G06F119/02（2020.01）N 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張立軍;嚴(yán)雨靈;張重達(dá);馬利軍;婁圓 申請（專利權(quán)）人 蘇州寬溫電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州吳韻知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王銘陸
地址 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)蘇州納米城1幢606-4室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路良率分析方法，包括步驟：一、均勻分布采樣：針對電路器件的各項(xiàng)工藝變化參數(shù)，采用均勻分布采樣的方法得到總量樣本；二、蒙特卡羅仿真：采用蒙特卡洛仿真方法對總量樣本進(jìn)行電路仿真，獲得電路失效樣本；三、重要性采樣：統(tǒng)計(jì)電路失效樣本各參數(shù)的均值，并將其作為電路失效區(qū)域的中心點(diǎn)，以該點(diǎn)為原點(diǎn)在電路失效區(qū)域進(jìn)行高斯分布采樣得到重要樣本；四、多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)篩選：將重要樣本輸入預(yù)先訓(xùn)練好的多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行篩選，得到電路失效的采樣點(diǎn)；五、電路良率計(jì)算：采用重要性采樣公式計(jì)算出電路良率。本發(fā)明能夠提供快速且準(zhǔn)確的良率驗(yàn)證分析，在縮短項(xiàng)目周期的同時(shí)提升產(chǎn)品可靠性。