解決光輻射量差異對光強檢測影響的自適應算法及其應用

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710630546.9 申請日 -
公開（公告）號 CN107515219A 公開（公告）日 2017-12-26
申請公布號 CN107515219A 申請公布日 2017-12-26
分類號 G01N21/84(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 曹靖;高耀發(fā);梁勝;鐘龍生;劉曉波;翁利;李文利;王展 申請（專利權）人 武漢市安友澤瑞科技有限公司
代理機構 武漢河山金堂專利事務所（普通合伙） 代理人 武漢市安友澤瑞科技有限公司
地址 430040 湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)高新二路388號武漢光谷國際生物醫(yī)藥企業(yè)加速器項目一期工程1號廠房8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種解決光輻射量差異對光強檢測影響的自適應算法及其應用，其根據光強發(fā)生變化前的多個初始光強檢測值以線性方法確定一初始經驗值，采用初始經驗值以線性校正的方法對初始光強檢測值進行轉換，得到轉換系數，最后根據轉換系數將其余光強檢測值以相同的方法進行一一校正轉換，實現對每臺光學儀器的初始光強檢測值進行統(tǒng)一，消除儀器間光源光輻射量的差異，進而提高檢測結果的精度和檢測效率。