一種自動(dòng)檢測(cè)晶片基底二維形貌的裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201410692768.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN105627951B | 公開(kāi)(公告)日 | 2018-07-31 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN105627951B | 申請(qǐng)公布日 | 2018-07-31 |
分類號(hào) | G01B11/245 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 劉健鵬;馬鐵中;張立芳;黃文勇;桑云剛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 南昌昂坤半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京華沛德權(quán)律師事務(wù)所 | 代理人 | 劉杰 |
地址 | 102206 北京市昌平區(qū)昌平路97號(hào)新元科技園B座503室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種自動(dòng)檢測(cè)晶片基底二維形貌的裝置,屬于半導(dǎo)體材料無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該裝置中,N束激光的多路出射光是由一個(gè)激光器經(jīng)過(guò)一個(gè)包含多個(gè)分光面的分光棱鏡,通過(guò)給所述多個(gè)分光面賦予差異化的反射率和透射率,使得經(jīng)過(guò)該分光棱鏡后射出的多路出射光光強(qiáng)相同,即該多路光強(qiáng)相同的出射光不是由多個(gè)激光器發(fā)射得到的,而是僅僅由一個(gè)激光器經(jīng)過(guò)該分光棱鏡的反射、折射得到的,由此,在有限的布置空間內(nèi),可以選用體積稍大的激光器,當(dāng)激光器體積增大后,其內(nèi)部散熱性能改善,并且,由于該激光器內(nèi)增設(shè)了反饋電路,可以根據(jù)需要改變激光器的內(nèi)部參數(shù),因此,能夠增強(qiáng)激光器的輸出功率和波長(zhǎng)的穩(wěn)定性。 |
