LCOS驅動芯片測試裝置及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200410084488.7 申請日 -
公開（公告）號 CN1779478A 公開（公告）日 2006-05-31
申請公布號 CN1779478A 申請公布日 2006-05-31
分類號 G01R31/28(2006.01) 分類 測量；測試;
發(fā)明人 印義言;張敏;王立輝;印義中 申請（專利權）人 上海華園微電子技術有限公司
代理機構 上海智信專利代理有限公司 代理人 上海華園微電子技術有限公司
地址 200233上海市宜山路900號A區(qū)六樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種LCOS驅動芯片測試裝置，包括：被測LCOS驅動芯片(1)，微控制器(2)，個人計算機(3)；計算機(3)中的串行接口RS232(31)與微控制器(2)的串行接口RS232(28)相連；微控制器(2)的I2C串行總線接口(22)與被測LCOS驅動芯片(1)的I2C串行總線接口(18)相連，并將測試命令通過命令字存儲器(17)傳輸?shù)娇刂齐娐?15)，控制電路(15)對測試命令進行分析并對測試命令進行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路(14)輸回到被測LCOS驅動芯片(1)的I2C串行總線接口(18)；微控制器(2)的并行接口(27)與被測LCOS驅動芯片(1)的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路(11)相連；有益效果是：測試設備價格低，測試速度快，降低了測試成本。