LCOS顯示芯片的測試電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200510025739.9 申請日 -
公開（公告）號 CN1862322A 公開（公告）日 2006-11-15
申請公布號 CN1862322A 申請公布日 2006-11-15
分類號 G02F1/133(2006.01);G09G3/00(2006.01) 分類 光學(xué);
發(fā)明人 印義言;張敏;印義中 申請（專利權(quán)）人 上海華園微電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海智信專利代理有限公司 代理人 上海華園微電子技術(shù)有限公司
地址 200233上海市宜山路900號A區(qū)六樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種LCOS顯示芯片的測試電路，被測LCOS顯示芯片(4)；還包括PC機(jī)(5)通過RS232串行接口(6)輸出測試命令給微處理器CPU(2)，微處理器CPU(2)控制EEPROM程序存儲(chǔ)器(1)的測試程序和EEPROM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(7)的測試數(shù)據(jù)以及所需要測試的時(shí)鐘信號CLK，經(jīng)測試接口電路(3)送到被測LCOS顯示芯片(4)，先將被測LCOS顯示芯片(4)復(fù)位、SRAM陣列(42)及內(nèi)部存儲(chǔ)器清零，然后LCOS顯示芯片(4)執(zhí)行測試程序進(jìn)行測試；測試結(jié)果通過測試接口電路(3)反饋到微處理器CPU(2)并與EEPROM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(7)中保存的相應(yīng)的預(yù)期測試結(jié)果加以比較經(jīng)RS232串行接口(6)顯示在PC機(jī)(5)上；有益效果是：測試設(shè)備價(jià)格低，測試速度快，降低了測試成本。