CPU卡芯片的測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN03142020.6 申請日 -
公開（公告）號 CN1581063A 公開（公告）日 2005-02-16
申請公布號 CN1581063A 申請公布日 2005-02-16
分類號 G06F9/06;G06F9/40;G01R31/26 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 陳桂嶺;王上;印義言 申請（專利權(quán)）人 上海華園微電子技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 上海開祺專利代理有限公司 代理人 上海華園微電子技術(shù)有限公司
地址 200233上海市宜山路900號A區(qū)六樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種CPU卡芯片的測試方法，是通過以下步驟實現(xiàn)的：通過測試程序的編制過程中定義待測試芯片管腳(PAD)與測試儀的測試通道之間的一一對應關(guān)系；通過測試程序中編寫的一個匹配子程序(MatchMode)，用以檢測輸出端口上的字符幀是起始位低電平(START BIT)，或者是無法等到起始位低電平；通過測試儀和自動探針臺之間的GPIB串口協(xié)議，在測試的過程中動態(tài)修改測試文件；本發(fā)明的有益效果是：可以準確的采樣到每一位的值，進而和期待的響應進行比較驗證，從而得出測試結(jié)果；由于得知當前正在測試的CPU卡芯片在晶圓上的相對坐標X和Y，以及取得該片晶圓的產(chǎn)品編號，確保了每一塊出廠的CPU卡芯片的初始化序列號都是唯一的。