光學(xué)薄膜測量設(shè)備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202030827703.8 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN306776138S | 公開（公告）日 | 2021-08-24 |
| 申請公布號 | CN306776138S | 申請公布日 | 2021-08-24 |
| 分類號 | - | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 毛宗欽;劉軍凱;孫思華 | 申請（專利權(quán)）人 | 睿勵科學(xué)儀器（上海）有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京啟坤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 趙晶 |
| 地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)華佗路68號6幢 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：光學(xué)薄膜測量設(shè)備。2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品是用于集成電路生產(chǎn)線工藝檢測。3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于形狀。4.最能表明設(shè)計要點的圖片或照片：立體圖1。5.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的底面為使用時不容易看到或看不到的部位，省略仰視圖。 |
