用于測量有機發(fā)光材料的方法、計算設(shè)備和計算機存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010650983.9 申請日 -
公開（公告）號 CN111812040B 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN111812040B 申請公布日 2022-03-11
分類號 G01N21/25（2006.01）I;G01N21/21（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 范靈杰;李政紅;盧國鵬;石磊;殷?，| 申請（專利權(quán)）人 上海復(fù)享光學(xué)股份有限公司
代理機構(gòu) 北京市金杜律師事務(wù)所 代理人 黃倩
地址 200433上海市楊浦區(qū)國定東路200號4號樓412-1室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種用于測量有機發(fā)光材料的方法、計算設(shè)備和計算機存儲介質(zhì)。該方法包括：將待測有機發(fā)光材料組件放置在光譜儀的樣品臺上；使得入射光以預(yù)定角度從待測有機材料層遠離襯底的一側(cè)照射待測有機材料層；旋轉(zhuǎn)光譜儀的探測裝置，以便掃描測量經(jīng)由棱鏡發(fā)出的各個角度的光強；以及基于經(jīng)由掃描測量而獲得的非偏振光譜信息與對照非偏振光譜信息之間的比較，確定待測有機發(fā)光材料組件中的偶極子分布取向信息，偶極子分布取向信息至少包括偶極子的豎直分布信息和偶極子水平分布信息，對照非偏振光譜信息是經(jīng)由疊加p偏振光譜信息和s偏振光譜信息而生成的。本公開能夠精準(zhǔn)衡量有機發(fā)光材料的發(fā)光特性。