一種芯片老化監(jiān)控方法、裝置及系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910810276.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112444718A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-03-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112444718A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-05 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李才會(huì);劉勵(lì) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海原動(dòng)力通信科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 馬瑞 |
| 地址 | 201600上海市松江區(qū)漕河涇開(kāi)發(fā)區(qū)松江高科技園莘磚公路518號(hào)6幢101室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實(shí)施例提供一種芯片老化監(jiān)控方法、裝置及系統(tǒng)，通過(guò)獲取目標(biāo)芯片在老化過(guò)程中的溫度變化曲線，并根據(jù)溫度升溫階段所對(duì)應(yīng)的曲線段，得到目標(biāo)芯片在溫度升溫階段的溫度變化斜率值，根據(jù)溫度穩(wěn)態(tài)階段所對(duì)應(yīng)的曲線段，得到目標(biāo)芯片在溫度穩(wěn)態(tài)階段的溫度值，最后溫度變化斜率值和溫度值，對(duì)目標(biāo)芯片的老化狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控，實(shí)現(xiàn)了對(duì)目標(biāo)芯片在老化過(guò)程中溫度升溫階段和溫度穩(wěn)態(tài)階段的老化狀態(tài)的監(jiān)控，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)存在貼裝或裝配異常的芯片的及時(shí)篩選，避免了目標(biāo)芯片在老化過(guò)程中出現(xiàn)溫度異常時(shí)，容易出現(xiàn)芯片燒毀的問(wèn)題。?? |
