一種ADC通道校準方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110652751.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113315515A 公開（公告）日 2021-08-27
申請公布號 CN113315515A 申請公布日 2021-08-27
分類號 H03M1/10（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 劉振;吳華意;王西剛;劉睿恒 申請（專利權(quán)）人 武漢拓寶科技股份有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 430075湖北省武漢市東湖高新區(qū)高新大道999號未來城龍山創(chuàng)新園一期F1棟1001單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種ADC通道校準方法，方法包括：在單片機的第一ADC通道上外接參考電路；在所述第一ADC通道上采集所述參考電路對應(yīng)的參考電壓和參考量化值；開啟所述單片機上其余各個ADC通道，分別測得各個ADC通道對應(yīng)的量化值，以計算得到各個ADC通道的校準電壓。本發(fā)明實施例提供的一種ADC通道校準方法，利用單片機多余的ADC通道，外加一個參考源芯片或者電路，解決部分單片機由于沒有外置參考源，提高ADC采樣準確度的方法，該方法對于電路的成本影響不大，提高了經(jīng)濟利用率。