一種多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022162257.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212255059U | 公開（公告）日 | 2020-12-29 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212255059U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-12-29 |
| 分類號(hào) | G01N21/31(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 夏明亮;袁邵隆;張峰;高響 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 蘇州卡睿知光電科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蘇州卡睿知光電科技有限公司 |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)濱河路689號(hào)工業(yè)大廈504-1室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開的一種多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)，包括：多合一光源模塊、導(dǎo)光模組模塊、樣品盤模塊、光電探測(cè)模塊；多合一光源模塊根據(jù)不同的待檢測(cè)樣品，輸出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)和強(qiáng)度的檢測(cè)光至導(dǎo)光模組模塊，在導(dǎo)光模組模塊進(jìn)行均勻化處理，輸出均勻的檢測(cè)光，均勻的檢測(cè)光通過(guò)樣品盤模塊的檢測(cè)孔照射至樣品盤模塊的待檢測(cè)樣品處，光電探測(cè)模塊接收通過(guò)檢測(cè)孔的待檢測(cè)樣品的檢測(cè)光，對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行分光光度的檢測(cè)。本實(shí)用新型通過(guò)導(dǎo)光模組模塊將多合一的檢測(cè)光經(jīng)導(dǎo)光模組模塊進(jìn)行均勻混合，照射穿過(guò)樣品盤中的待檢樣品中，透射出的檢測(cè)光再打到光電探測(cè)模塊上進(jìn)行信號(hào)檢測(cè)，進(jìn)行分光光度檢測(cè)時(shí)成本低、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、測(cè)試流程簡(jiǎn)單易于實(shí)現(xiàn)，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。?? |
