一種多層石墨烯污點定位檢測裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201520819578.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN205426819U | 公開(公告)日 | 2016-08-03 |
申請公布號 | CN205426819U | 申請公布日 | 2016-08-03 |
分類號 | G01N21/958(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 詹炳輝 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市科恩石墨烯納米科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京匯捷知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 深圳市科恩石墨烯納米科技有限公司 |
地址 | 518033 廣東省深圳市福田區(qū)福田街道濱河大道5003號愛地大廈西座19樓ABC房 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型涉及一種多層石墨烯污點定位檢測裝置,包括:機架和設(shè)置在機架上的掃描機構(gòu)、控制器、操作機構(gòu)、拍照機構(gòu)、圖像處理器、密封罩、鼓風(fēng)器、及抽真空器;利用激光被折射的原理對石墨烯上的污點進行檢測,能夠?qū)呙鑶卧獧z測到可能存在污點的位置進行拍照,采用高清照相機,進行放大對焦,具有更強的針對性,減少誤差,同時通過不同的色彩為背景,減少單一背景使污點不易發(fā)現(xiàn)的狀況,確定后的區(qū)域能減少工作量;然后從整體上觀察其疑似污點的區(qū)域,因為,這種具有連續(xù)性關(guān)系的污點,很容易被肉眼觀察到,無需再采用本辦法進行判斷;保證采集到的照片具有更多的精確性;采用不同的光源,是降低光源對結(jié)果的影響。 |
