一種動態(tài)測量片狀材料晶體織構的系統(tǒng)、設備及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201711351713.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN108414553B | 公開(公告)日 | 2021-03-23 |
申請公布號 | CN108414553B | 申請公布日 | 2021-03-23 |
分類號 | G01N23/207(2006.01)I;G01N23/2055(2018.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 熊旭明;王延凱;寇秀榮;戴輝;羅恒;李小寶;陳惠娟;蔡淵 | 申請(專利權)人 | 蘇州新材料研究所有限公司 |
代理機構 | 北京工信聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 朱振德 |
地址 | 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)星湖街218號生物納米園C18棟 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種動態(tài)測量帶材或板材的晶體織構的系統(tǒng)、設備及方法。該系統(tǒng)包括用于發(fā)射X射線的X射線管以及用于接收X射線并計算得出待測產(chǎn)品的晶體織構的X射線探測器,所述X射線管及X射線探測器分別設置于測角儀上,所述測角儀設置在第一旋轉臺上,所述第一旋轉臺設置在第二旋轉臺上,所述第一旋轉臺與第二旋轉臺的旋轉軸相互垂直;所述系統(tǒng)還包括待測產(chǎn)品輸送機構,用于將所述待測產(chǎn)品以連續(xù)或步進的方式輸送經(jīng)過所述X射線管及X射線探測器的檢測點。本發(fā)明實現(xiàn)了對帶材及板材等待測產(chǎn)品的在線連續(xù)自動測量,大大提高了測量效率,并且可測量內容豐富。同時結構簡單,可以加裝于現(xiàn)有生產(chǎn)線或檢測線上,無需改動現(xiàn)有設備的結構,成本低。?? |
