一種全量程物體表面光譜反射率測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811082019.X 申請日 -
公開（公告）號 CN109187376A 公開（公告）日 2021-06-18
申請公布號 CN109187376A 申請公布日 2021-06-18
分類號 G01N21/27 分類 測量；測試;
發(fā)明人 戰(zhàn)永剛;戰(zhàn)捷;程明望 申請（專利權(quán)）人 深圳市三束鍍膜技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 深圳市神州聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 周松強
地址 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)南灣街道上李朗社區(qū)甘李路中盛科技園6號廠房6樓A
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種全量程物體表面反射率測試方法，該方法首先利用100％反射率標(biāo)定基準(zhǔn)片確定其指定波長的信號強度值E1n和歸一系數(shù)C1n，其次利用低反射率標(biāo)定基準(zhǔn)片確定其指定波長的信號強度值為Ekn和歸低系數(shù)Ckn，測定工件實際的可見光區(qū)指定波長測試點的信號強度En后，根據(jù)En所落入的范圍確定賦予C1n和Ckn的采信權(quán)重，求出歸標(biāo)系數(shù)Cn，最終確定指定波長位置Rn。測試人員實現(xiàn)利用基準(zhǔn)標(biāo)定片確定歸一系數(shù)和歸低系數(shù)，并進一步確定歸標(biāo)系數(shù)Cn。整個過程測試數(shù)據(jù)誤差小，適用全量程，操作方便快捷。