一種顯微分光光度計的載片治具及透鏡的多點測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110322280.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113049510A 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN113049510A 申請公布日 2021-06-29
分類號 G01N21/31;G01N21/01 分類 測量；測試;
發(fā)明人 戰(zhàn)永剛;陳合金;馮紅濤;戰(zhàn)捷;尹強 申請（專利權）人 深圳市三束鍍膜技術有限公司
代理機構 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 代理人 劉曰瑩
地址 518000 廣東省深圳市龍華區(qū)福城街道福民社區(qū)核電工業(yè)園5號101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種顯微分光光度計的載片治具及透鏡的多點測試方法，所述載片治具包括：底座、X軸轉動部、Z軸轉動部和鏡片夾具，其中，所述X軸轉動部包括：轉動塊和兩第一緊固件，所述轉動塊上設有一Z向的通孔；所述底座上設有兩支撐架，兩第一緊固件可將所述轉動塊鎖緊于兩支撐架之間；所述Z軸轉動部包括：轉動軸、載片臺和兩第二緊固件，所述載片臺設于所述轉動軸上，所述轉動軸可轉動地置于所述Z向通孔內(nèi)，兩第二緊固件穿過所述轉動塊可將所述Z軸轉動部鎖緊于所述轉動塊上；所述鏡片夾具卡設于所述載片臺上。本發(fā)明的載片治具及測試方法使顯微分光光度計能夠測試任意曲率透鏡的任意點的的反射光譜，且測試精度高。