數(shù)據(jù)采樣方法與系統(tǒng)及其在參數(shù)辨識(shí)中的應(yīng)用方法與系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210408534.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN102946253B 公開（公告）日 2016-06-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN102946253B 申請(qǐng)公布日 2016-06-08
分類號(hào) H03M1/54(2006.01)I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 郝玉山 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 保定市三川電氣有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京博雅睿泉專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 馬佑平
地址 071051 河北省保定市保定高新區(qū)創(chuàng)業(yè)中心C樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種數(shù)據(jù)采樣方法：對(duì)物理量按照采樣頻率fs≤fsh進(jìn)行采樣，fsh＝ζmax/ε為采樣頻率上限；以及一種數(shù)據(jù)采樣方法及系統(tǒng)：對(duì)物理量以滿足奈奎斯特定理的采樣頻率進(jìn)行采樣，對(duì)得到的采樣序列先進(jìn)行低通濾波，再進(jìn)行重抽樣，重抽樣的頻率fs≤ζmax/ε；其中ε為采樣系統(tǒng)的Z域誤差，ζmax為S域的最大誤差。本發(fā)明還涉及一種先采用上述數(shù)據(jù)采樣方法及系統(tǒng)得到采樣數(shù)據(jù)，再利用采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行動(dòng)態(tài)和/或靜態(tài)參數(shù)辨識(shí)的參數(shù)辨識(shí)方法及系統(tǒng)。本發(fā)明的數(shù)據(jù)采樣方法及系統(tǒng)，以及參數(shù)辨識(shí)方法及系統(tǒng)，解決了采樣數(shù)據(jù)誤差較大、數(shù)字控制失穩(wěn)、和參數(shù)辨識(shí)失敗的技術(shù)難題。