一種眾核芯片的測(cè)試方法、裝置及測(cè)試設(shè)備
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811630342.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111381147B | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111381147B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-01 |
| 分類號(hào) | G01R31/28（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 孟樑;閻亞茹 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 北京靈汐科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京麥寶利知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 趙艷紅 |
| 地址 | 100080北京市海淀區(qū)北四環(huán)西路67號(hào)8層801 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)一種眾核芯片的測(cè)試方法、裝置及測(cè)試設(shè)備。其中，該方法包括：向待測(cè)試的眾核芯片的各個(gè)內(nèi)核輸入相同的測(cè)試向量，其中，眾核芯片的內(nèi)核包括m個(gè)內(nèi)核組，m個(gè)內(nèi)核組中的每個(gè)內(nèi)核組包含n個(gè)內(nèi)核，m個(gè)內(nèi)核組中物理實(shí)現(xiàn)相同的內(nèi)核具有相同的組內(nèi)標(biāo)識(shí)，且同一內(nèi)核組中的n個(gè)內(nèi)核的組內(nèi)標(biāo)識(shí)互不相同，其中，m為大于2的整數(shù)，n為大于1的整數(shù)；判斷m個(gè)內(nèi)核組中具有相同組內(nèi)標(biāo)識(shí)的內(nèi)核的輸出的測(cè)試結(jié)果向量是否完全相同；如果m個(gè)內(nèi)核組中所有具有相同組內(nèi)標(biāo)識(shí)的內(nèi)核輸出的測(cè)試結(jié)果向量都相同，則確定待測(cè)試的眾核芯片無(wú)故障。通過(guò)本發(fā)明，可以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。 |
