應用于開爾文測試的芯片測試針及治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420706715.4 申請日 -
公開（公告）號 CN204302330U 公開（公告）日 2015-04-29
申請公布號 CN204302330U 申請公布日 2015-04-29
分類號 G01R1/067(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉凱;施元軍;高凱;殷嵐勇 申請（專利權）人 上海韜盛電子科技股份有限公司
代理機構 上海唯源專利代理有限公司 代理人 上海韜盛電子科技有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)郭守敬路498號9幢20214室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種應用于開爾文測試的芯片測試針及治具，屬于電子產(chǎn)品技術領域。該應用于開爾文測試的芯片測試針的針頭部具有兩個內凹面，兩個內凹面之間的距離小于測試針本體的寬度，且該應用于開爾文測試的芯片測試治具的上蓋板頂部設置有與針腔連通的方形槽，方形槽的寬度大于芯片測試針的針頭部兩個內凹面之間的距離，且方形槽的寬度小于芯片測試針的本體的寬度。從而能使該測試針放置在治具針腔內時，其針頭部可置于所述的方形槽中，從而有效避免測試針在針腔內的旋轉，提高針尖刺到錫球的準確度，保證芯片檢測的效率，且本實用新型的應用于開爾文測試的芯片測試針及治具，其結構簡單，成本低廉，應用范圍也相當廣泛。