應(yīng)用于開爾文測試的芯片測試針及治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420706715.4 申請日 -
公開（公告）號 CN204302330U 公開（公告）日 2015-04-29
申請公布號 CN204302330U 申請公布日 2015-04-29
分類號 G01R1/067(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉凱;施元軍;高凱;殷嵐勇 申請（專利權(quán)）人 上海韜盛電子科技股份有限公司
代理機構(gòu) 上海唯源專利代理有限公司 代理人 上海韜盛電子科技有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)郭守敬路498號9幢20214室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種應(yīng)用于開爾文測試的芯片測試針及治具，屬于電子產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域。該應(yīng)用于開爾文測試的芯片測試針的針頭部具有兩個內(nèi)凹面，兩個內(nèi)凹面之間的距離小于測試針本體的寬度，且該應(yīng)用于開爾文測試的芯片測試治具的上蓋板頂部設(shè)置有與針腔連通的方形槽，方形槽的寬度大于芯片測試針的針頭部兩個內(nèi)凹面之間的距離，且方形槽的寬度小于芯片測試針的本體的寬度。從而能使該測試針放置在治具針腔內(nèi)時，其針頭部可置于所述的方形槽中，從而有效避免測試針在針腔內(nèi)的旋轉(zhuǎn)，提高針尖刺到錫球的準(zhǔn)確度，保證芯片檢測的效率，且本實用新型的應(yīng)用于開爾文測試的芯片測試針及治具，其結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，應(yīng)用范圍也相當(dāng)廣泛。