芯片測試治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420692600.4 申請日 -
公開（公告）號 CN204303758U 公開（公告）日 2015-04-29
申請公布號 CN204303758U 申請公布日 2015-04-29
分類號 H01L21/66(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 劉凱;郭靖;施元軍;高凱;殷嵐勇 申請（專利權(quán)）人 上海韜盛電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海唯源專利代理有限公司 代理人 上海韜盛電子科技有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)郭守敬路498號9幢20214室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種芯片測試治具，屬于電子產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域。該芯片測試治具包括本體、銅塊和護(hù)板，銅塊位于所述的本體和護(hù)板之間；該芯片測試治具還包括若干測試針，所述的本體、銅塊和護(hù)板的對應(yīng)位置上分別設(shè)置有若干測試針通孔，所述的測試針設(shè)置于所述的測試針通孔內(nèi)。所述的測試針通孔不采用全針腔設(shè)計，從而能夠適用于高頻率的芯片測試，且結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉的芯片測試治具。