微電機(jī)系統(tǒng)測試針
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201420693039.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN204302329U | 公開(公告)日 | 2015-04-29 |
申請公布號 | CN204302329U | 申請公布日 | 2015-04-29 |
分類號 | G01R1/067(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 施元軍;劉凱;高凱;殷嵐勇 | 申請(專利權(quán))人 | 上海韜盛電子科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海唯源專利代理有限公司 | 代理人 | 上海韜盛電子科技有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)郭守敬路498號9幢20214室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型涉及一種微電機(jī)系統(tǒng)測試針,屬于電子產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域。該結(jié)構(gòu)的微電機(jī)系統(tǒng)測試針包括頂部針頭和底部針頭,以及連接于所述的頂部針頭和底部針頭之間的蛇形彎曲部分,所述的蛇形彎曲部分由若干首尾相連的S型單元組成。在受壓時(shí)前后S型單元接觸,減小芯片檢測高頻時(shí)的電阻,從而有效提高測試針使用壽命,降低芯片檢測成本,且該實(shí)用新型的微電機(jī)系統(tǒng)測試針的結(jié)構(gòu)檢測,生產(chǎn)工藝簡便。 |
