適用于高頻測(cè)試的芯片測(cè)試插座

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201420745125.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN204302321U 公開(kāi)（公告）日 2015-04-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN204302321U 申請(qǐng)公布日 2015-04-29
分類(lèi)號(hào) G01R1/04(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 高宗英;周勇華;高凱;殷嵐勇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海韜盛電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海唯源專利代理有限公司 代理人 蔡沅
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)郭守敬路498號(hào)9幢20214室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種適用于高頻測(cè)試的芯片測(cè)試插座，屬于電子設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。采用了該結(jié)構(gòu)的適用于高頻測(cè)試的芯片測(cè)試插座，由于其框架、浮板、主體和托板中設(shè)置有若干上下貫通的針腔，各所述針腔中均設(shè)置有測(cè)試針，所述的浮板為金屬浮板，且所述的測(cè)試針與所述的浮板之間設(shè)置有特氟隆墊圈，從而避免了金屬材料與測(cè)試針之間的導(dǎo)電和摩擦產(chǎn)生的磨損，進(jìn)而避免了信號(hào)之間的干擾，信號(hào)傳輸衰減小，具有屏蔽衰減的，特性阻抗較好，且本實(shí)用新型的適用于高頻測(cè)試的芯片測(cè)試插座，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低廉，應(yīng)用范圍也較為廣泛。