一種手動(dòng)式芯片測(cè)試夾具
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201120282990.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN202204837U | 公開(公告)日 | 2012-04-25 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN202204837U | 申請(qǐng)公布日 | 2012-04-25 |
分類號(hào) | G01R1/04 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 孫鴻斐;田治峰;高凱;王強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海韜盛電子科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人 | 龔敏 |
地址 | 201203上海市浦東新區(qū)郭守敬路498號(hào)20號(hào)樓214室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型涉及一種手動(dòng)式芯片測(cè)試夾具。其結(jié)構(gòu)包括了連接器,連接器導(dǎo)向塊、連接器導(dǎo)向塊緊固螺絲、連接器導(dǎo)向塊定位銷釘、連接器緊固螺絲,以及垂直方向微調(diào)螺桿和測(cè)試探針;所述垂直方向微調(diào)螺桿調(diào)整連接器中測(cè)試探針與電子芯片接觸點(diǎn)的高度。本實(shí)用新型采用從側(cè)邊接觸芯片引腳的方式,并且與芯片的接觸點(diǎn)高度可以調(diào)整,即可以根據(jù)芯片所需的檢測(cè)點(diǎn)高度進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整,避免與引腳脆弱部分接觸,損毀芯片。本實(shí)用新型方案為手動(dòng)方案,當(dāng)芯片安裝固定好開始測(cè)試時(shí)。操作者可以根據(jù)已安裝的芯片,調(diào)整連接器的位置。確保連接器中的探針與芯片的引腳完全接觸。 |
