芯片CP測(cè)試中探針臺(tái)驅(qū)動(dòng)配置方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110889908.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN113608105A 公開(kāi)(公告)日 2021-11-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN113608105A 申請(qǐng)公布日 2021-11-05
分類(lèi)號(hào) G01R31/28(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 徐振 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 杭州芯云半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 合肥方舟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 吳偉晨
地址 310000浙江省杭州市濱江區(qū)浦沿街道六和路368號(hào)一幢(南)一樓F1066室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供芯片CP測(cè)試中探針臺(tái)驅(qū)動(dòng)配置方法,方法包括如下步驟:步驟S1,先通過(guò)測(cè)試機(jī)監(jiān)測(cè)模塊掃描被測(cè)芯片的批號(hào),再通過(guò)分批處理模塊根據(jù)芯片批號(hào)的不同進(jìn)行分批處理;步驟S2,通過(guò)測(cè)試機(jī)的測(cè)試模塊從服務(wù)器獲取被測(cè)芯片的測(cè)試信息;步驟S3,檢測(cè)芯片批號(hào)為奇數(shù)時(shí),通過(guò)分批處理模塊中的優(yōu)先檢測(cè)單元進(jìn)行優(yōu)先處理,檢測(cè)芯片信號(hào)為偶數(shù)時(shí),通過(guò)分離處理模塊中的檢測(cè)等待單元進(jìn)行遲緩處理;步驟S4,通過(guò)測(cè)試機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)探針臺(tái)對(duì)被測(cè)芯片進(jìn)行檢測(cè),本發(fā)明通過(guò)為解密代碼設(shè)置若干套轉(zhuǎn)換方法,能夠一體化對(duì)測(cè)試芯片進(jìn)行檢測(cè),能夠根據(jù)測(cè)試芯片批號(hào)自動(dòng)下載所需Recip,提高一體化進(jìn)程,提高測(cè)試精確性,節(jié)省大量人力,降低檢測(cè)成本。