微型復(fù)雜件的多面檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710859950.3 申請日 -
公開（公告）號 CN107860310B 公開（公告）日 2020-04-21
申請公布號 CN107860310B 申請公布日 2020-04-21
分類號 G01B11/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張柯;高萬順;張偉明 申請（專利權(quán)）人 廣東創(chuàng)世紀(jì)智能裝備集團(tuán)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 東莞華晶粉末冶金有限公司;廣東勁勝智能集團(tuán)股份有限公司
地址 523000 廣東省東莞市東城街道牛山外經(jīng)工業(yè)園偉豐路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種微型復(fù)雜件的多面檢測方法，其包括以下步驟：將微型復(fù)雜件置于二次元測量平臺上；測量微型復(fù)雜件于二次元測量平臺的檢測面上的尺寸；對于微型復(fù)雜件的每一側(cè)面，將一個拼接長方體置于微型復(fù)雜件的一側(cè)面旁并使拼接長方體與微型復(fù)雜件相接觸；測量拼接長方體對微型復(fù)雜件的該側(cè)面的反射投影于二次元測量平臺的檢測面上的尺寸；將兩個拼接長方體對稱并排置于二次元測量平臺上，將微型復(fù)雜件置于其中一個拼接長方體上，測量另一個拼接長方體對微型復(fù)雜件的底面的反射投影于二次元測量平臺的檢測面上的尺寸。上述微型復(fù)雜件的多面檢測方法能夠精確測量微型復(fù)雜件的各個面的微結(jié)構(gòu)，提升了測量效率。