一種減反射膜抗PID性能的測試方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201610755545.2 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN106253850B | 公開（公告）日 | 2018-09-14 |
| 申請公布號 | CN106253850B | 申請公布日 | 2018-09-14 |
| 分類號 | H02S50/10 | 分類 | 發(fā)電、變電或配電; |
| 發(fā)明人 | 崔會英;錢亮;蔣碩;仲崇嬌;嵇友誼;錢晟浩 | 申請（專利權(quán)）人 | 奧特斯維能源（太倉）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | 鞏克棟;侯桂麗 |
| 地址 | 610000 四川省成都市高新區(qū)成灌路西段839號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種減反射膜抗PID性能的測試方法，包括如下步驟：(1)將硅片清洗、制絨、鍍減反射膜、燒結(jié)退火；(2)在步驟(1)所得硅片表面連續(xù)撒電荷，同時檢測硅片表面的電壓值；(3)對比硅片表面電壓與電荷量，若硅片表面電壓隨著電荷量呈線性增加，則說明減反射膜絕緣性能較好，則后續(xù)的電池或組件具備抗PID性能好；否則說明減反射膜絕緣性能較差，后續(xù)的電池或組件抗PID性能較差。本發(fā)明提供的測試方法可在電池制造過程中快速準(zhǔn)確地測試減反射膜抗PID效應(yīng)，從而減少組件測試中帶來的浪費(fèi)。 |
