一種雷達標(biāo)校、獲取目標(biāo)俯仰角度的方法及雷達標(biāo)校系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110812581.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113466809A 公開（公告）日 2021-10-01
申請公布號 CN113466809A 申請公布日 2021-10-01
分類號 G01S7/40（2006.01）I;G01S3/48（2006.01）I;G01S3/32（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李驍驊 申請（專利權(quán)）人 成都中科四點零科技有限公司
代理機構(gòu) 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 徐靜
地址 610000四川省成都市中國（四川）自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)益州大道中段1800號1棟3層303號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種雷達標(biāo)校、獲取目標(biāo)俯仰角度的方法及雷達標(biāo)校系統(tǒng)，涉及雷達應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域，利用飛行器采集現(xiàn)場數(shù)據(jù)，配合最小二乘法估計，可以從非常大的測試噪聲中實現(xiàn)標(biāo)校，該獲取方法不需要雷達模擬器，標(biāo)校塔等額外設(shè)施設(shè)備，極大降低了測試設(shè)備要求測試時間短，僅需要十多分鐘；可在雷達部署后再校準(zhǔn)，貼近實戰(zhàn)。