一種工藝開發(fā)包中參數(shù)化單元的DRC驗證方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201410184633.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105095535A | 公開(公告)日 | 2015-11-25 |
申請公布號 | CN105095535A | 申請公布日 | 2015-11-25 |
分類號 | G06F17/50(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 李滔;生俊揚;王春輝;牛歡歡;高穎 | 申請(專利權(quán))人 | 北方集成電路技術(shù)創(chuàng)新中心(北京)有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京市磐華律師事務(wù)所 | 代理人 | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;北方集成電路技術(shù)創(chuàng)新中心(北京)有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)張江路18號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種工藝開發(fā)包中參數(shù)化單元的DRC驗證方法,包括以下步驟:步驟(a)產(chǎn)生PCell實例;步驟(b)對所述PCell實例進行版圖布局;步驟(c)執(zhí)行DRC檢查,檢查所述PCell實例中的PCell參數(shù)是否存在錯誤。本發(fā)明為了在有限的開發(fā)時間和有限的計算資源條件下,盡可能高效、全面地對PCell實例進行DRC驗證,提出了一種可以快速有效產(chǎn)生大量PCell實例,并進行DRC驗證的方法。在所述方法中如果生成的PCell實例存在DRC錯誤,本發(fā)明的方法可以快速準確的定位存在DRC錯誤的PCell相關(guān)參數(shù),以便于開發(fā)人員找到DRC錯誤的原因并修改PCell。 |
