一種工藝開發(fā)包中參數(shù)化單元的DRC驗(yàn)證方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410184633.2 申請日 -
公開（公告）號 CN105095535B 公開（公告）日 2019-09-03
申請公布號 CN105095535B 申請公布日 2019-09-03
分類號 G06F17/50 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 李滔;生俊揚(yáng);王春輝;牛歡歡;高穎 申請（專利權(quán)）人 北方集成電路技術(shù)創(chuàng)新中心（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市磐華律師事務(wù)所 代理人 中芯國際集成電路制造（上海）有限公司;北方集成電路技術(shù)創(chuàng)新中心（北京）有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江路18號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種工藝開發(fā)包中參數(shù)化單元的DRC驗(yàn)證方法，包括以下步驟：步驟(a)產(chǎn)生PCell實(shí)例；步驟(b)對所述PCell實(shí)例進(jìn)行版圖布局；步驟(c)執(zhí)行DRC檢查，檢查所述PCell實(shí)例中的PCell參數(shù)是否存在錯(cuò)誤。本發(fā)明為了在有限的開發(fā)時(shí)間和有限的計(jì)算資源條件下，盡可能高效、全面地對PCell實(shí)例進(jìn)行DRC驗(yàn)證，提出了一種可以快速有效產(chǎn)生大量PCell實(shí)例，并進(jìn)行DRC驗(yàn)證的方法。在所述方法中如果生成的PCell實(shí)例存在DRC錯(cuò)誤，本發(fā)明的方法可以快速準(zhǔn)確的定位存在DRC錯(cuò)誤的PCell相關(guān)參數(shù)，以便于開發(fā)人員找到DRC錯(cuò)誤的原因并修改PCell。