一種高反光圓柱體的直徑測量方法、裝置以及使用方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910324984.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109945792A | 公開(公告)日 | 2019-06-28 |
申請公布號 | CN109945792A | 申請公布日 | 2019-06-28 |
分類號 | G01B11/08(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 田增國; 張宏帥; 翟曉彤; 姜寶柱; 李仕豪 | 申請(專利權(quán))人 | 洛陽德晶智能科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 洛陽公信知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 洛陽德晶智能科技有限公司 |
地址 | 471000 河南省洛陽市中國(河南)自由貿(mào)易試驗區(qū)洛陽片區(qū)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)濱河北路99號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種高反光圓柱體的直徑測量方法、裝置以及使用方法,其首先利用拍攝裝置獲得待測圓柱體的原始圖像,然后將待測圓柱體的原始圖像轉(zhuǎn)化為灰度圖像;利用經(jīng)典邊緣檢測算法對灰度圖像進(jìn)行邊緣檢測,得到待測圓柱體上邊緣的輪廓線;再利用改進(jìn)的二次曲線擬合亞像素邊緣檢測方法進(jìn)行邊緣定位,得到亞像素級邊緣;再采用主元素分析法對邊緣輪廓線進(jìn)行曲線擬合,得到待測圓柱體上邊緣成像位置H;然后選取標(biāo)準(zhǔn)圓柱體,根據(jù)公式獲得待測圓柱體的直徑。本發(fā)明具有測量快速、結(jié)果準(zhǔn)確的優(yōu)點。 |
