一種通過質(zhì)量-電阻法測量WIC鑲嵌超導(dǎo)線銅超比方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911044958.X 申請日 -
公開（公告）號 CN110823747B 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN110823747B 申請公布日 2022-02-22
分類號 G01N5/00（2006.01）I;G01N27/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王菲菲;郭強;王蒙;董茂勝;陳建亞;昌勝紅;張科;李建峰 申請（專利權(quán)）人 西部超導(dǎo)材料科技股份有限公司
代理機構(gòu) 西安弘理專利事務(wù)所 代理人 燕肇琪
地址 710018陜西省西安市經(jīng)開區(qū)明光路12號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及WIC鑲嵌超導(dǎo)線材銅超比測量技術(shù)領(lǐng)域，尤其為WIC鑲嵌超導(dǎo)線提供一種質(zhì)量與電阻相結(jié)合的銅超比測量方法；將鍍錫前鑲嵌圓線與鑲嵌銅槽線進行剝離；采用電阻法測量鑲嵌圓線的銅超比β，通過計算得出鑲嵌圓線銅的體積，鑲嵌圓線Nb阻隔層與NbTi芯絲的體積；稱重鑲嵌銅槽質(zhì)量并通過計算獲得鑲嵌銅槽線體積；稱重WIC鍍錫成品線質(zhì)量，鑲嵌銅槽與鑲嵌圓線質(zhì)量之和，兩者相減獲得鑲嵌焊料錫的質(zhì)量并通過計算獲得焊料錫的體積。大量測量比對實驗表明：本發(fā)明的方法與化學(xué)腐蝕法測量比對誤差在2％以內(nèi)，滿足使用需求。本發(fā)明的方法與化學(xué)腐蝕法相比，效率提升65％以上，且避免了化學(xué)腐蝕法使用HNO3對環(huán)境造成的污染。