一種適用于功率半導(dǎo)體器件結(jié)溫和老化信息的在線監(jiān)測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110642271.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113376497A 公開（公告）日 2021-09-10
申請公布號 CN113376497A 申請公布日 2021-09-10
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李鋒;魏繼云;王濤;楊賓;鄭丹丹 申請（專利權(quán)）人 新風(fēng)光電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)寧匯景知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 孫兆乾
地址 272000山東省濟(jì)寧市汶上縣經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)金成路中段路北
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種適用于功率半導(dǎo)體器件結(jié)溫和老化信息的在線監(jiān)測方法，涉及功率半導(dǎo)體器件技術(shù)領(lǐng)域，解決了功率半導(dǎo)體器件結(jié)溫提取困難的問題，將導(dǎo)通壓降Vce（on）測量電路和柵極驅(qū)動(dòng)電路集成設(shè)計(jì)，通過實(shí)時(shí)在線提取導(dǎo)通壓降Vce（on）和負(fù)載電流I，可以實(shí)現(xiàn)在線提取IGBT的結(jié)溫信息和老化信息；導(dǎo)通壓降Vce（on）測量電路與柵極驅(qū)動(dòng)電路集成設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)在不破壞IGBT封裝情況下提取結(jié)溫信息和老化信息；通過長時(shí)間采集同一條件下導(dǎo)通壓降Vce（on）變化情況，可以對IGBT的運(yùn)行狀況進(jìn)行量化分析，輔助實(shí)現(xiàn)人工干預(yù)，提高裝置運(yùn)行的可靠性。