一種內(nèi)孔超聲波檢測探頭及檢測方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111644654.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114295723A | 公開(公告)日 | 2022-04-08 |
申請公布號 | CN114295723A | 申請公布日 | 2022-04-08 |
分類號 | G01N29/04(2006.01)I;G01N29/24(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 圣兆興;馬善明;劉仕遠(yuǎn);段怡雄;顧彬;陸春宇;陳天亮 | 申請(專利權(quán))人 | 中鐵檢驗認(rèn)證(常州)機(jī)車車輛配件檢驗站有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 常州易瑞智新專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 潘悅 |
地址 | 213000江蘇省常州市武進(jìn)區(qū)戚墅堰街道戚廠工房11區(qū)1號1幢 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種內(nèi)孔超聲波檢測探頭及檢測方法,其中內(nèi)孔超聲波檢測探頭,包括固定螺栓以及與固定螺栓依次同軸固定相連的探頭部、支撐桿和手柄,所述固定螺栓與探頭部之間設(shè)有同軸安裝在固定螺栓上的儲油海綿;所述探頭部包括殼體以及設(shè)于殼體內(nèi)并同時工作的第一壓電晶片和第二壓電晶片,所述第一壓電晶片傾斜安裝在殼體內(nèi),所述第二壓電晶片水平安裝在殼體內(nèi)。本發(fā)明的第一壓電晶片發(fā)射出的聲波在工件中以橫波傳播,從而在內(nèi)孔面掃查時對外圓沿圓周方向的裂紋缺陷較為敏感;第二壓電晶片發(fā)射出的聲波在工件中以縱波傳播,可監(jiān)控探頭部與齒軸內(nèi)孔表面的接觸耦合情況,從而對齒軸外圓疲勞裂紋等缺陷實施有效檢測。 |
