硅片的濕法蝕刻方法和裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210325636.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114724948A | 公開(公告)日 | 2022-07-08 |
申請公布號 | CN114724948A | 申請公布日 | 2022-07-08 |
分類號 | H01L21/3213(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 梁兆龍;王國峰 | 申請(專利權(quán))人 | 青島惠科微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市百瑞專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 266200山東省青島市即墨區(qū)北安街道辦事處太吉路1號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種硅片的濕法蝕刻方法和裝置,步驟包括,將表面形成有金屬膜層的硅片浸入金屬蝕刻液中;等待反應(yīng)預(yù)設(shè)時間,將反應(yīng)后的硅片提離金屬蝕刻液;重復(fù)將反應(yīng)后的硅片浸入金屬蝕刻液中,并等待反應(yīng)預(yù)設(shè)時間,將反應(yīng)后的硅片提離金屬蝕刻液,直至硅片表面的金屬膜層蝕刻完成。通過上述步驟,將硅片反復(fù)的上下拋動,保證了每個硅片的速度是相同的,相對于旋轉(zhuǎn)硅片,不會出現(xiàn)靠近旋轉(zhuǎn)中心的硅片的速度小,而遠(yuǎn)離旋轉(zhuǎn)中心的硅片的速度大,保證硅片蝕刻均勻性,也避免硅片因?yàn)樗俣冗^大而破損,且把硅片提離液位的方式,將硅片表面殘留的生成物帶走,避免生成物附著在硅片的表面,阻止蝕刻反應(yīng)的進(jìn)行,提高反應(yīng)效率。 |
