半導(dǎo)體器件的制備方法及半導(dǎo)體器件
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210333552.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114724936A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-07-08 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114724936A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-08 |
分類(lèi)號(hào) | H01L21/228(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I;H01L29/861(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 史仁先;王國(guó)峰 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 青島惠科微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京華夏泰和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 266227山東省青島市即墨區(qū)北安街道辦事處太吉路1號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種半導(dǎo)體器件的制備方法及半導(dǎo)體器件,該半導(dǎo)體器件的制備方法包括提供清洗后的硅片,通入液態(tài)磷源在第一溫度下進(jìn)行擴(kuò)散以在硅片上形成摻雜區(qū);對(duì)硅片第一面的摻雜區(qū)打磨預(yù)設(shè)深度,采用液態(tài)硼源在硅片第一面涂覆預(yù)設(shè)厚度;使硅片在第二溫度下進(jìn)行高溫處理,以使磷離子和硼離子注入硅片內(nèi);對(duì)硅片的表面進(jìn)行處理,包括對(duì)硅片第一面噴砂處理,在硅片上形成臺(tái)面溝槽,對(duì)臺(tái)面溝槽處進(jìn)行劃片得到單個(gè)芯粒。本申請(qǐng)?zhí)峁┑闹苽浞椒ㄖ苽湫瘦^高,在制備過(guò)程中對(duì)晶圓的物理沖擊小、環(huán)境污染小,且形成的PN結(jié)較平整,可以應(yīng)用于例如汽車(chē)電子領(lǐng)域等高溫環(huán)境中。 |
