球面型樣品表面涂層取樣設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201110429087.0 申請日 -
公開（公告）號 CN102426113B 公開（公告）日 2014-01-15
申請公布號 CN102426113B 申請公布日 2014-01-15
分類號 G01N1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蘇康宇;董寧;陳軍;李波;郭冰 申請（專利權(quán)）人 杭州華測檢測技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 518057 廣東省深圳市寶安區(qū)70區(qū)鴻威工業(yè)園C棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種球面型樣品表面涂層取樣設(shè)備，用于對球面型的樣品表面的涂層進行刮取，包括：底座，所述底座呈水平設(shè)置；刀片刮取裝置，所述刀片刮取裝置包括推樣機構(gòu)、刀模、仿形切削刀片，所述推樣機構(gòu)包括驅(qū)動裝置及推樣板，所述刀模安裝在所述底座上且內(nèi)部開設(shè)有貫穿所述刀模的前端面的樣品通道，所述樣品置于所述樣品通道上，所述仿形切削刀片裝設(shè)于所述刀模的前端面位于所述樣品通道的出口處，所述驅(qū)動裝置通過所述推樣板推動樣品通過所述仿形切削刀片，進行切削樣品的表面涂層。本發(fā)明公開的球面型樣品表面涂層取樣設(shè)備可廣泛應(yīng)用于刮取球面型樣品的表面涂層，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，能有效地提高工作效率，取樣量大，安全可靠。