目標(biāo)檢測方法、裝置及電子設(shè)備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011579999.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112580581A | 公開（公告）日 | 2021-03-30 |
| 申請公布號 | CN112580581A | 申請公布日 | 2021-03-30 |
| 分類號 | G06N3/04(2006.01)I;G06K9/00(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I | 分類 | 計算；推算；計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 朱才志;于永軍;周曉;孫耀暉;何龍泉 | 申請（專利權(quán)）人 | 合肥英特靈達(dá)信息技術(shù)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京柏杉松知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 孫翠賢;馬敬 |
| 地址 | 518102廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道龍騰社區(qū)西鄉(xiāng)大道230號滿京華藝巒大廈4座301-B005 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實施例提供了目標(biāo)檢測方法、裝置及電子設(shè)備，應(yīng)用于計算機視覺的目標(biāo)檢測領(lǐng)域。該方法應(yīng)用于邊緣計算服務(wù)器，該方法包括：獲取待檢測圖像；利用預(yù)先訓(xùn)練好的目標(biāo)檢測模型，對待檢測圖像進(jìn)行目標(biāo)檢測，得到檢測結(jié)果；其中，目標(biāo)檢測模型為基于樣本圖像和樣本圖像的標(biāo)注結(jié)果訓(xùn)練得到的，目標(biāo)檢測模型包含用于提取圖像特征的殘差網(wǎng)絡(luò)，殘差網(wǎng)絡(luò)包含串行連接的擴展卷積層、深度卷積層和投影卷積層，擴展卷積層包含第一數(shù)量個輸入通道和第二數(shù)量個輸出通道，投影卷積層包含第二數(shù)量個輸入通道和第一數(shù)量個輸出通道，第二數(shù)量大于第一數(shù)量。通過本方案，可以在有限算力的邊緣側(cè)微型服務(wù)器上，提升目標(biāo)檢測的準(zhǔn)確性。?? |
