一種玻璃基板內(nèi)缺陷檢測方法及裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201710453855.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN106996937B | 公開(公告)日 | 2019-09-06 |
申請公布號 | CN106996937B | 申請公布日 | 2019-09-06 |
分類號 | G01N21/958(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 周波; 李青; 王麗紅; 胡恒廣 | 申請(專利權(quán))人 | 福州東旭光電科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京英創(chuàng)嘉友知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 耿超;王浩然 |
地址 | 350000 福建省福州市保稅港區(qū)加工貿(mào)易區(qū)監(jiān)管大樓109室072區(qū)間(福清市新厝鎮(zhèn)新江路9號)(自貿(mào)試驗區(qū)內(nèi)) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種玻璃基板內(nèi)缺陷檢測方法及裝置,玻璃基板內(nèi)缺陷檢測方法包括:將光源(1)和第一攝像裝置(2)分別設(shè)置在待檢測玻璃基板(3)板面的相對兩側(cè);在與待檢測玻璃基板(3)發(fā)生相對移動過程中,所述光源(1)發(fā)射的光線穿過待檢測玻璃基板(3)后射入所述第一攝像裝置(2);根據(jù)所述第一攝像裝置(2)內(nèi)的視場識別待檢測玻璃基板(3)內(nèi)是否存在缺陷。通過本發(fā)明的玻璃基板內(nèi)缺陷檢測方法及裝置能夠判斷玻璃基板內(nèi)是否存在缺陷,并且能夠準(zhǔn)確地識別距離缺陷位置較近的待檢測玻璃基板(3)的板面。 |
